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  • 鐵電自放電測(cè)試儀/參數(shù)分析儀
    鐵電自放電測(cè)試儀/參數(shù)分析儀

    更新時(shí)間：2024-06-04

    型號(hào)：

    瀏覽量：1541

    鐵電自放電測(cè)試儀/參數(shù)分析儀主要用來(lái)研究電介質(zhì)材料的自漏電性。由于測(cè)試條件非常接近實(shí)際情況，因此通過(guò)這種方式可容易地測(cè)試應(yīng)用于DRAM材料的合適性。
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  • huaceCMA陶瓷多層執(zhí)行器測(cè)試儀
    huaceCMA陶瓷多層執(zhí)行器測(cè)試儀

    更新時(shí)間：2023-08-07

    型號(hào)：huaceCMA

    瀏覽量：1340

    陶瓷多層執(zhí)行器測(cè)試儀本設(shè)備專門(mén)用于陶瓷多層執(zhí)行器在動(dòng)態(tài)加載力和靜態(tài)加載力條件下的研究，并且可以從室溫到200℃的測(cè)試。
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  • TSDC熱激發(fā)極化電流測(cè)試儀器
    TSDC熱激發(fā)極化電流測(cè)試儀器

    更新時(shí)間：2024-06-05

    型號(hào)：TSDC

    瀏覽量：3923

    熱激發(fā)極化電流測(cè)試儀器系統(tǒng)除了可以測(cè)試材料的鐵電、壓電、熱釋電外，還可以用于測(cè)試材料的熱激發(fā)極化電流TSDC （Thermally Stimulated Depolarization Current Measurement）。
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  • huacePES-Cryo低溫塊體壓電分析儀/其他
    huacePES-Cryo低溫塊體壓電分析儀/其他

    更新時(shí)間：2023-08-07

    型號(hào)：huacePES-Cryo

    瀏覽量：1412

    低溫塊體壓電分析儀/其他主要用于高低溫下的壓電塊體陶瓷樣品的全面電和機(jī)電的表征。壓電測(cè)試溫度可以達(dá)到-100℃到+600℃。
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  • aixPES-600/800高溫塊體壓電參數(shù)分析儀
    aixPES-600/800高溫塊體壓電參數(shù)分析儀

    更新時(shí)間：2024-06-13

    型號(hào)：aixPES-600/800

    瀏覽量：1552

    高溫塊體壓電參數(shù)分析儀本系統(tǒng)主要用于高溫下的壓電塊體陶瓷樣品的電和機(jī)電的表征。 壓電測(cè)試溫度可以達(dá)到室溫到600℃或室溫到800℃兩種溫度范圍。
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  • 壓電材料綜合表征系統(tǒng)aixPES測(cè)試儀器
    壓電材料綜合表征系統(tǒng)aixPES測(cè)試儀器

    更新時(shí)間：2023-08-07

    型號(hào)：

    瀏覽量：1471

    壓電材料綜合表征系統(tǒng)aixPES測(cè)試儀器本系統(tǒng)主要用于壓電塊體陶瓷樣品的電和機(jī)電的表征。大信號(hào)和小信號(hào)材料的特征可以在一定溫度范圍內(nèi)表征。樣品上的電流響應(yīng)測(cè)量是通過(guò)虛擬接地方法衡量電壓激勵(lì)信號(hào)。樣品的微位移同時(shí)通過(guò)激光干涉儀進(jìn)行測(cè)量。
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  • TF Analyzer 2000E國(guó)產(chǎn)鐵電壓電分析儀/測(cè)試儀器
    TF Analyzer 2000E國(guó)產(chǎn)鐵電壓電分析儀/測(cè)試儀器

    更新時(shí)間：2024-06-13

    型號(hào)：TF Analyzer 2000E

    瀏覽量：5507

    TF ANALYZER 2000E鐵電壓電分析儀/測(cè)試儀器是一款擴(kuò)展性高的速型模塊化鐵電壓電分析儀，可廣泛地應(yīng)用于如各種鐵電/壓電/熱釋電薄膜、厚膜、體材料和電子陶瓷、鐵電傳感器/執(zhí)行器/存儲(chǔ)器等領(lǐng)域的研究。國(guó)產(chǎn)鐵電壓電分析儀/測(cè)試儀器
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  • TF Analyzer 1000鐵電壓電分析儀
    TF Analyzer 1000鐵電壓電分析儀

    更新時(shí)間：2024-06-04

    型號(hào)：TF Analyzer 1000

    瀏覽量：2507

    TF ANALYZER 1000是一款緊湊型鐵電壓電分析儀，具備鐵電、壓電材料所有基本特性測(cè)試功能，可與激光干涉儀和SPM掃描探針顯微鏡等微位移傳感器聯(lián)用，適用于薄膜、厚膜和塊狀陶瓷及鐵電器件等分析測(cè)試。
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